تراشه های تقلبی با یک ابزار نانویی قابل شناسایی می شوند
ایت بال: یک روش جدید برای تشخیص تقلب ارائه شده که به سازندگان و کاربران جهانی تراشه کمک نماید تا از خطرات ناشی از افزایش تراشه های تقلبی بازار فرار کنند.
به گزارش ایت بال به نقل از مهر، بازار ۷۵ میلیارد دلاری تراشه های تقلبی، ایمنی و امنیت بخش های مختلفی را که به فناوری های نیمه هادی وابسته هستند، همچون هوانوردی، ارتباطات، محاسبات کوانتومی، هوش مصنوعی و امور مالی به خطر می اندازد. یک روش تازه ای برای تشخیص تقلب ارائه شده که به سازندگان و کاربران جهانی تراشه کمک نماید تا از خطرات ناشی از افزایش تراشه های تقلبی بازار فرار کنند.
این روش تشخیص تقلب نوری در دانشگاه پوردو توسعه یافته و در آن از یادگیری عمیق برای شناسایی دستکاری در تراشه های نیمه هادی استفاده می نماید. این فناوری که RAPTOR نام دارد، برای پردازش پاسخ های نوری دستکاری شده استفاده می نماید. در این تکنیک، دستکاری های بدون مجوز مانند ساییدگی، عملیات حرارتی و پارگی بخش های مختلف قطعه بسادگی شناسایی می شوند.
به گفته پروفسور الکساندر کیلدیشف، که رهبری این مطالعه را بر عهده داشت، تا حالا چندین روش برای تایید اصالت نیمه هادی و شناسایی تراشه های تقلبی به وجود آمده است. او اظهار داشت: «این روش ها تا حد زیادی از برچسب های امنیتی فیزیکی در عملکرد یا بسته بندی تراشه استفاده می نمایند. مرکز خیلی از این تکنیک ها، توابع فیزیکی غیرقابل کلون (PUF) هستند، که سیستم های فیزیکی منحصربه فردی هستند که به سبب محدودیت های اقتصادی یا خاصیت های فیزیکی ذاتی، شبیه سازی آن برای متقلبان دشوار است.
PUF های نوری، که از پاسخ های نوری متمایز محصول بهره می برند، خصوصاً برای شناسایی تراشه های تقلبی امیدوارکننده هستند. با این وجود، دستیابی به مقیاس پذیری و حفظ تبعیض دقیق بین دستکاری متقلبان و تخریب طبیعی چالش های مهمی را به وجود می آورد.
رویکرد مبتنی بر یادگیری عمیق که تیم دانشگاه پوردو توسه داده، دستکاری متخاصم را در یک PUF نوری برمبنای آرایه های الگودار تصادفی از نانوذرات طلا، شناسایی می کند. پژوهشگران آرایه ها را با بهره گیری از میکروسکوپ میدان تاریک ایجاد می کنند و موقعیت و شعاع الگوهای ذرات منفرد را نشاندار می کنند.
سپس نانوذرات تحت عملیاتی قرار می گیرند که نمونه ای از تخریب طبیعی یا دستکاری متخاصم است. بعد از قرار دادن نانوذرات در معرض این نوع دستکاری ها، پژوهشگران موقعیت ها و شعاع نانوذرات را باردیگر اندازه گیری کرده و آنها را با هم مقایسه می کنند.
یوهنگ چن، محقق این پروژه، اظهار داشت: «نانوذرات طلا بطور تصادفی و یکنواخت بر روی بستر تراشه توزیع می شوند. نانوذرات طلا را می توان به آسانی با بهره گیری از میکروسکوپ میدان تاریک اندازه گیری نمود. این یک روش به آسانی دردسترس است که می تواند بطور یکپارچه در هر مرحله از خط لوله ساخت نیمه هادی ادغام شود.»
محققان با این تکنیک موقعیت و شعاع نانوذرات طلا را در الگوهای تصادفی از ۱۰۰۰ تصویر میدان تاریک تنها در ۲۷ میلی ثانیه استخراج کردند و صحت هر الگو را با بهره گیری از RAPTOR در ۸۰ میلی ثانیه با دقت ۹۷٫۶ درصد، بررسی کردند.
منبع: ایت بال
این مطلب را می پسندید؟
(1)
(0)
تازه ترین مطالب مرتبط
نظرات بینندگان در مورد این مطلب